簡要描述:Phasics Kaleo IR 紅外光學(xué)計量機(jī)臺讓紅外光學(xué)元件測試變得非常簡便。可通過單次測量迅速獲得紅外的MTF,而無需掃描或繁冗的準(zhǔn)直工作;在測量的同時可獲取所有的波前畸變。同時Kaleo IR還是一臺在NIR,SWIR,MWIR以及LWIR波段的高性價比紅外干涉儀,用于測試光學(xué)元件面形。
Phasics Kaleo IR 紅外光學(xué)計量機(jī)臺讓紅外光學(xué)元件測試變得非常簡便。可通過單次測量迅速獲得紅外的MTF,而無需掃描或繁冗的準(zhǔn)直工作;在測量的同時可獲取所有的波前畸變。同時Kaleo IR還是一臺在NIR,SWIR,MWIR以及LWIR波段的高性價比紅外干涉儀,用于測試光學(xué)元件面形。